除了節(jié)省成本外，使用 IBIS 模型的設(shè)計(jì)人員還可以在進(jìn)行電路板原型設(shè)計(jì)或制造之前預(yù)見(jiàn)并解決信號(hào)完整性問(wèn)題，從而縮短電路板開(kāi)發(fā)周期，從而加快上市時(shí)間。
半導(dǎo)體芯片在發(fā)貨前都經(jīng)過(guò)測(cè)試，以排除早期故障，但是還有一些更微妙的可靠性影響，這些影響只會(huì)在較長(zhǎng)時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，比如時(shí)鐘老化。甚至還有一個(gè)經(jīng)典圖表顯示了故障率隨時(shí)間變化的“浴
555定時(shí)器于1971年由電子工程師Hans Camenzind發(fā)明，他受電子制造商Signetics的委托為其開(kāi)發(fā)鎖相環(huán)(LLP) 芯片。在最初設(shè)計(jì)的幾天后，Camenzind想到了使用直接電阻而不是恒定電流源，發(fā)現(xiàn)修改后的效率
本文將通過(guò)了解同步電路、時(shí)鐘傳輸和時(shí)鐘分配網(wǎng)絡(luò)，進(jìn)而了解什么是時(shí)鐘偏差（clock skew）以及它對(duì)現(xiàn)代系統(tǒng)的影響。
計(jì)算機(jī)輔助工程(CAE)曾經(jīng)是擁有高性能計(jì)算機(jī)的專家的領(lǐng)域，現(xiàn)在正成為設(shè)計(jì)師的工作站應(yīng)用程序。
使用 7nm 技術(shù)，時(shí)鐘信號(hào)現(xiàn)在看起來(lái)更像鋸齒信號(hào)，實(shí)際上在芯片的核心內(nèi)部可能無(wú)法達(dá)到 0 65V 的完整 Vdd 值。
賓夕法尼亞大學(xué)（UPenn）研究人員最近使用新材料展示了模擬內(nèi)存計(jì)算電路如何為人工智能計(jì)算提供可編程解決方案。
FPGA(Field Programmable Gate Array)原型驗(yàn)證，基于其成本適中、速率接近真實(shí)系統(tǒng)環(huán)境等優(yōu)點(diǎn)，受到了驗(yàn)證工程師的青睞。正是由于廣泛豐
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