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Mentor 推出 Tessent Safety 生態系統以滿足自動駕駛時代的 IC 測試要求

2019-11-20 15:09:56 Mentor Graphics Corporation

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西門子旗下業務Mentor 今日宣布推出一套全新的 Tessent™ 軟件安全生態系統，即由 Mentor與其行業領先合作伙伴攜手提供的涵蓋最優汽車 IC 測試解決方案的產品組合，該程序能夠幫助 IC 設計團隊滿足全球汽車行業日益嚴格的功能安全需求。

Tessent Safety 生態系統功能強大，能夠替代其他基于封閉、單片和單源模型的同類程序。Mentor 的IC測試功能安全保證的開放式生態系統方法使得芯片制造商可以將 Mentor 業界領先的 IC 測試技術與其它先進的解決方案相結合，從而構建一套更加完整、性能更高的解決方案。

西門子旗下業務Mentor 的Tessent產品系列副總裁兼總經理Brady Benware表示：“快速的系統內 IC 測試性能有助于縮短從故障檢測到片上安全機制啟動的時間。為提高 IC 測試性能，汽車 IC 的設計人員需要緊密結合包括 DFT 和非 DFT 技術在內的所有片上安全機制，而這種方法正是 Mentor Tessent Safety 生態系統的基礎。”

Mentor 推出 Tessent Safety 生態系統旨在與眾多行業領先的合作伙伴通力合作，實現快速擴展。該生態系統包括：
· Mentor 的業界領先的內建自測試 (BIST) 技術，包括新型 Tessent LBIST with Observation Scan Technology (LBIST-OST) 解決方案，能夠大幅減少汽車 IC 中數字邏輯組件的系統內監控的運行時間。新的 Tessent LBIST-OST 解決方案能夠幫助客戶滿足嚴格的汽車功能安全需求，與傳統的LBIST 技術相比，可使系統內測試時間縮減高達 10 倍。
· Tessent™ MemoryBIST 具有全面的自動化流程，可提供 RTL 或門級的設計規則檢查、測試規劃、集成和驗證。Tessent MemoryBIST 具有分層架構，因此可將 BIST 和自修復功能添加到單個內核和頂層。
· Tessent™ MissionMode 產品將自動化功能與片上 IP 組合在一起，讓用戶在車輛正常運行的過程中可以隨時對整個汽車電子系統中的半導體芯片進行測試和診斷。
· Tessent™ DefectSim晶體管級缺陷仿真器，用于模擬、混合信號 (AMS) 和非掃描數字電路。Tessent DefectSim可測量缺陷覆蓋率和容差，是高產量和高可靠性 IC 的理想選擇。
· Mentor 參與了 Arm® 功能安全合作伙伴計劃 (AFSPP)。Mentor Tessent® Safety 生態系統利用了 Arm Safety Ready IP 功能，例如 Cortex®-R52 處理器，將實時執行與任何 Arm 處理器中最高水平的集成功能安全能力相結合，采用先進的超級監控程序技術來簡化軟件集成，并通過強大的分離功能來保護安全關鍵代碼。
· Mentor 的汽車級自動測試向量生成 (ATPG) 技術，可檢測出通常被傳統測試向量和故障模型遺漏的晶體管級和互連級缺陷。
· 與 Mentor 的 Austemper SafetyScope 和 KaleidoScope 產品緊密關聯，這些產品添加了最先進的安全分析、自動校正和故障仿真技術，可解決隨機硬件故障。Austemper 技術可以分析設計人員 RTL 中的故障和漏洞，并通過智能的故障注入來幫助安全機制有計劃地對覆蓋的故障做出反應。通過并行化和分布式操作方法，專有加速算法可實現比標準門級故障注入技術高出許多數量級的速度。

瑞薩電子(Renesas) 在早期就采用了 Mentor Tessent Safety 生態系統的關鍵技術，在其設計一款新型汽車處理器時評估了 Mentor 最新推出的 Tessent LBIST-OST 解決方案。

“利用Tessent LBIST-OST 解決方案中的 Observation Scan 技術，我們能夠將系統內LBIST 的測試時間縮減 5 倍，從而實現了更快的覆蓋率提升，”Renesas Electronics Corporation 物聯網和基礎設施事業部共享研發 EDA 業務部數字設計技術部門總監 Hideyuki Okabe 表示，“這使我們能夠在將 LBIST 用作安全機制的同時縮短容錯時間間隔 (FTTI)，并提高檢測到汽車產品新缺陷時的安全響應。我們期望將這項技術繼續應用在我們的汽車產品之中。”