10nm FinFET的設(shè)計流程取得大進(jìn)展
2015-07-07 07:39:51 日經(jīng)BP  |
| 臺積電的Willy Chen發(fā)表演講。 《日經(jīng)電子》拍攝。 （點(diǎn)擊放大） |
本次演講是在新思科技、ARM、臺積電借第52屆設(shè)計自動化會議之機(jī)，于2015年6月8日聯(lián)合舉辦的“Collaborating to Enable Design with 16-nm and 10-nm FinFET”上發(fā)表。演講人是臺積電設(shè)計暨技術(shù)平臺副處長Willy Chen（圖）。
關(guān)于16nm FinFET+工藝的設(shè)計流程，在2014年，臺積電發(fā)布了在參考流程中提供的支持（圖1）。16nm FinFET+工藝是由當(dāng)初的16nm FinFET工藝改進(jìn)而來，通過改變鰭片形狀等，性能提高了15％。
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| 圖1：參考流程的推移。 |
16nm FinFET的16個項(xiàng)目正在推進(jìn)
Chen表示，面向16nm FinFET+工藝的設(shè)計流程早已準(zhǔn)備就緒（已進(jìn)入可實(shí)際設(shè)計芯片的狀態(tài)）（圖2）。現(xiàn)在，16個開發(fā)項(xiàng)目正在推進(jìn)，到2016年底，將有50個設(shè)計送廠生產(chǎn)。
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| 圖2：16nm FinFET+（N16FF+）的設(shè)計流程。 |
臺積電直到16nm工藝，才首次將FinFET應(yīng)用于量產(chǎn)（20nm之前采用平面晶體管），N16FF+流程中新增加的功能，很多都與FinFET有關(guān)。比如說，布局布線中的自動格線置放、寄生RC提取中的高精度FinFET建模、物理驗(yàn)證中的FinFET規(guī)則支持等。
Chen重新指出，隨著工藝向16nm、10nm的微細(xì)化，自動布局布線與其他工序的聯(lián)動將變得愈發(fā)重要（圖3）。比如說，在自動布局布線和寄生RC提取中，布線電阻與電容的相關(guān)性，在自動布局布線與EM（electronic migration）/IR壓降分析中，MiM（metal insulator metal）電容的插入與分析等。
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| 圖3：工序之間的聯(lián)動愈發(fā)重要。 |
10nm采用三重曝光
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| 圖4：各代工藝的新課題。 |
對于20nm之后的16nm工藝，適應(yīng)FinFET是主要課題。而10nm工藝將采用三重曝光（通過分3次進(jìn)行曝光，形成在28nm工藝之前，經(jīng)1次曝光在Si上形成的圖案）。臺積電把設(shè)計三重曝光時，劃分第1次曝光數(shù)據(jù)、第2次曝光數(shù)據(jù)和第3次曝光數(shù)據(jù)叫作“全分色”（Full-Coloring）。另外，雖然這次沒有發(fā)布，但根據(jù)推測，之后的7nm工藝估計將會采用四重曝光。
在采用三重曝光的10nm設(shè)計流程中，規(guī)則檢查和寄生成分提取有所變化（圖5）。而且，面向高速信號，還需要借助使用低電阻布線層的一維布線（圖6）、布局的多功能化和高速化（圖7）。
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| 圖5：10nm工藝的規(guī)則檢查和寄生成分提取的課題。 臺積電的幻燈片。 （點(diǎn)擊放大） |
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| 圖6：一維布線。 臺積電的幻燈片。 （點(diǎn)擊放大） |
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| 圖7：改進(jìn)布局。 |
接近成品的驗(yàn)證芯片送廠生產(chǎn)
Chen表示，10nm工藝的設(shè)計流程也已準(zhǔn)備就緒，可供客戶使用（圖8）。臺積電在數(shù)字設(shè)計方面，使用四核的“ARM Cortex-A15”進(jìn)行了驗(yàn)證（圖9）。在定制和模擬設(shè)計方面，使用PLL完成了驗(yàn)證（圖10）。而且，接近成品的第一款驗(yàn)證芯片已經(jīng)送廠生產(chǎn)。這款驗(yàn)證芯片集成了四核的Cortex-A57等（圖11）。（記者：小島郁太郎）
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| 圖8：10nm FinFET的設(shè)計流程。 |
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| 圖9：在數(shù)字電路中的驗(yàn)證。 |
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| 圖10：在定制電路中的驗(yàn)證。 |
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| 圖11：接近成品的第一款驗(yàn)證芯片。 ） |
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