業界獲獎產品Cadence Encounter Test擴展數據壓縮以及成品率診斷特性以應對制造成本上漲和成品率下滑難題
【美國加州圣荷塞，2006年7月20日】Cadence設計系統有限公司（NASDAQ：CDNS）今天宣布，憑借其最新的數據壓縮以及成品率診斷性能，該公司正不斷擴展在
測試和成品率診斷領域的技術先導地位。新版Cadence® Encounter® Test通過為非專有的片上異或（XOR）
測試數據壓縮結構提供更廣泛的支持,解決在制造高品質硅
芯片過程中的費用上漲問題。此新型數據壓縮性能增強了自動化
測試矢量生成(ATPG)和診斷產品之間的多廠商互操作性，并支持使用一站式診斷流程。
“較高的
測試覆蓋率以及對眾多
測試數據壓縮體系的有力支持相對于
測試成本以及生產成本而言是我們實現高品質目標的關鍵因素。” Freescale
半導體公司DFM/DFT 方法部的經理Raj Raina說， “而令人高興的是我們在Encounter Test中加入了最新的XOR壓縮體系。該體系對原有設計的影響極小，超越了我們的壓縮要求，達到了
測試覆蓋率的要求，并且支持一站式的診斷方法。”
這種新型
測試功能在輸入端采用了基于XOR發散網絡扇出的解壓縮技術，而在輸出端則使用帶有可選的不定態屏蔽功能的XOR樹狀壓縮技術。對于被Cadence Encounter Test用戶廣泛使用的高效OPMISR+（產品內的多輸入簽字寄存器）體系來說，這種技術無疑能夠使之更為強大。任何一種壓縮體系都可以很方便地嵌入到Encounter Test Architect.中去，該產品曾獲得2005年Test & Measurement World 雜志評選出來的最佳
測試獎。
此外，在導致成品率損耗的設計中，Encounter Test Diagnostics性能實現了由邏輯域到物理結構定位的擴展。而這些結構則通過一個新型、直觀、易于使用以及全功能的物理瀏覽器顯示出來。此瀏覽器能夠在診斷標注和網點之間迅速建立關聯，包括它的金屬層次，以及周圍的過孔和接觸孔，從而加速了物理故障分析（PFA）。
“此新版本繼承了Encounter Test創新以及集成化的優良傳統，為我們的客戶提供了更高價值。”Cadence研發部門的副總裁Sanjiv Taneja說，“引入了有關數據壓縮和成品率診斷的創新技術，這種新版產品在加速成品率提升和降低
測試成本方面將令客戶受益匪淺。
Cadence® Encounter® Test是Cadence Encounter數字
IC設計平臺的一項關鍵技術，幫助行業實現了從邏輯設計到硅
芯片的最先進的
測試解決方案。這項新技術現已全面上市。
關于Cadence
Cadence公司（Nasdaq股票代碼：CDNS）成就全球電子設計技術創新，并在創建當今集成電路和電子產品中發揮核心作用。我們的客戶采用Cadence的軟件、硬件、設計方法和服務，來設計和驗證用于消費電子產品、網絡和通訊設備以及計算機系統中的尖端
半導體器件、印刷電路板和電子系統。Cadence 2005年全球公司收入約13億美元,現擁有員工約5000名，公司總部位于美國加州圣荷塞市，公司在世界各地均設有銷售辦事處、設計中心和研究設施，以服務于全球電子產業。
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| >> 發布時間：2006-07-20 |
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