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ADALM2000實驗:共發射極放大器

2020-08-17 12:53:49 ADI
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目標

本活動的目的是研究BJT的共發射極配置。

圖1.共發射極放大器測試配置。
圖1.共發射極放大器測試配置。

背景知識:

共發射極放大器是三種基本單級放大器拓撲之一。BJT共發射極放大器一般用作反相電壓放大器。晶體管的基極端為輸入,集電極端為輸出,而發射極為輸入和輸出共用(可連接至參考地端或電源軌),所謂“共射”即由此而來。

圖2.共發射極放大器測試配置面包板連接。
圖2.共發射極放大器測試配置面包板連接。

材料:

■   ADALM2000主動學習模塊

■   無焊面包板

■   五個電阻

■   一個50 kΩ可變電阻、電位計

■   一個小信號NPN晶體管(2N3904)

圖3.共發射極放大器測試配置,VIN和VCE。
圖3.共發射極放大器測試配置,VIN和VCE。

指導

圖1所示配置展現了用作共發射極放大器的NPN晶體管。選擇適當的輸出負載電阻RL,用于產生合適的標稱集電極電流IC,VCE電壓約為VP(5 V)的一半。通過可調電阻RPOT與RB來設置晶體管(IB)的標稱偏置工作點,進而設置所需的IC。選擇適當的分壓器R1/R2,以便通過波形發生器W1提供足夠大的輸入激勵衰減??紤]到在晶體管VBE的基極上會出現非常小的信號,這樣做更容易查看發生器W1信號。衰減波形發生器W1信號通過4.7 uF電容交流耦合到晶體管基極,以免干擾直流偏置條件。

圖4.共發射極放大器測試配置,VIN和VBE。
圖4.共發射極放大器測試配置,VIN和VBE。

硬件設置

波形發生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連接在示波器通道1+上,以顯示發生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

圖5.替代方案的共發射極放大器測試配置。
圖5.替代方案的共發射極放大器測試配置。

程序步驟

打開連接到BJT晶體管集電極(VP= 5 V)的電源

配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

圖3和圖4是使用LTspice® 得到的仿真電路波形圖示例。

共發射極放大器的電壓增益A可以表示為負載電阻RL與小信號發射極電阻re的比值。晶體管的跨導gm是集電極電流IC和所謂的熱電壓kT/q的函數,在室溫下其近似值約為25 mV或26 mV。

小信號發射極電阻為1/gm且可視為與發射極串聯。現在,在基極上施加電壓信號,相同的電流(忽略基極電流)會流入re和集電極負載RL。因此,由RL與re的比值可得到增益A。

VBE圖5所示為另一種共發射極放大器測試電路方案。除了兩個小優勢之外,所有屬性基本相同。其中一個優勢是基極電流偏置不再取決于指數基極電壓(

VBE

)。第二個優勢是AWG1衰減后輸出的交流小信號與基極偏置電路無關,并且無需交流耦合。當把交流小信號接在運算放大器的同相端子時,由于負反饋的作用,它也會出現在晶體管的基極端(反相運算放大器輸入)。

 

圖6.替代方案的共發射極放大器測試配置面包板連接。

 

圖6.替代方案的共發射極放大器測試配置面包板連接。

 

圖7.替代方案的共發射極放大器測試配置,VIN和VBE。

 

圖7.替代方案的共發射極放大器測試配置,VIN和VBE。

提供負反饋的自偏置配置

目標

本節旨在研究添加負反饋對穩定直流工作點的效果。晶體管電路最常用的一種偏置電路是發射極自偏置電路,它使用一個或多個偏置電阻來設置晶體管IB、IC和IE三個初始直流電流。

圖8.替代方案的共發射極放大器測試配置VBE縮放。
圖8.替代方案的共發射極放大器測試配置VBE縮放。

硬件設置

波形發生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連接在示波器通道1+上,以顯示發生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

圖9.自偏置配置。

 

圖9.自偏置配置。

程序步驟

打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源

配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

圖11和圖12是使用LTspice® 得到的仿真電路波形圖示例。

圖10.自偏置配置面包板連接。圖10.自偏置配置面包板連接。

添加發射極負反饋

目標

本活動的目的是研究添加發射極負反饋的影響。

圖11.自偏置配置,VIN和VCE。
圖11.自偏置配置,VIN和VCE。

背景知識

共發射極放大器為放大器提供反相輸出,具有極高增益,而且各晶體管之間的差異很大。此外,由于與溫度和偏置電流密切相關,增益有時無法預測。可以通過在放大器級配置一個小值反饋電阻來改善電路的性能。

圖12.自偏置配置,VIN和VBE。
圖12.自偏置配置,VIN和VBE。

附加材料

一個5 kΩ可變電阻、電位計

圖13.添加了發射極負反饋。
圖13.添加了發射極負反饋。

指導

如圖13所示,斷開Q1發射極的接地連接,插入RE(一個5 kΩ電位計)。調整RE,同時注意觀察晶體管集電極上的輸出信號。

圖14.添加了發射極負反饋的面包板連接。圖14.添加了發射極負反饋的面包板連接。

硬件設置

波形發生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連在接示波器通道1+上,以顯示發生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

圖15.添加了發射極負反饋,VIN和VCE。
圖15.添加了發射極負反饋,VIN和VCE。

程序步驟

打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

圖15和圖16是使用LTspice® 得到的仿真電路波形圖示例。

圖16.添加了發射極負反饋,VIN和VBE。
圖16.添加了發射極負反饋,VIN和VBE。

提高發射極負反饋放大器的交流增益

添加發射極負反饋電阻提高了靜態工作點的穩定性,但降低了放大器增益??赏ㄟ^在負反饋電阻RE上添加電容C2,在一定程度上恢復了交流信號的較高增益,如圖17所示。

圖17.添加C2可提高交流增益。
圖17.添加C2可提高交流增益。

硬件設置

波形發生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其設連接在示波器通道1+上,以顯示發生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

圖18.添加C2之后的面包板連接,用于提高交流增益。
圖18.添加C2之后的面包板連接,用于提高交流增益。

程序步驟

打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

圖19和圖20是使用LTspice® 得到的仿真電路波形圖示例。

圖19.添加C2可提高交流增益VIN和VCE。
圖19.添加C2可提高交流增益VIN和VCE。

問題

■   對于共發射極放大器電路設置,增加RL會對電壓增益A產生什么影響?

您可以在學子專區博客上找到問題答案。

圖20.添加C2可提高交流增益VIN和VBE。
圖20.添加C2可提高交流增益VIN和VBE。

作者簡介:

Doug Mercer于1977年畢業于倫斯勒理工學院(RPI),獲電子工程學士學位。自1977年加入ADI公司以來,他直接或間接貢獻了30多款數據轉換器產品,并擁有13項專利。他于1995年被任命為ADI研究員。2009年,他從全職工作轉型,并繼續以名譽研究員身份擔任ADI顧問,為“主動學習計劃”撰稿。2016年,他被任命為RPI ECSE系的駐校工程師。

Antoniu Miclaus現為ADI公司的系統應用工程師,從事ADI教學項目工作,同時為Circuits from the Lab®、QA自動化和流程管理開發嵌入式軟件。他于2017年2月在羅馬尼亞克盧日-納波卡加盟ADI公司。他目前是貝碧思鮑耶大學軟件工程碩士項目的理學碩士生,擁有克盧日-納波卡科技大學電子與電信工程學士學位。

關鍵詞: ADI 射極放大器

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