美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI） “第十五屆圖形化系統設計征文競賽”已于近日正式啟動。此次大賽針對所有使用NI產品的用戶，旨在進一步推動圖形化系統設計在國內的發展和應用，使更多的工程師們能更快更好地開發符合特定要求的測控應用。
從2000年開始，該活動已經成功舉辦了十四屆，得到廣大NI新老用戶的熱情支持，每年都收集到數量眾多的優秀創新應用方案，使得大賽獲獎應用方案文集備受青睞。活動一旦正式報名參與，即有獎勵。入圍決賽者更將有機會獲得豐厚的獎金、超值產品升級與培訓獎勵，以及免費參加 NIDays技術盛會的機會。決賽獲獎文章還將發表在權威期刊《儀器儀表學報》增刊上 。
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有關比賽詳情，請訪問下列網址：http://china.ni.com/papercontest2015。
