是德科技推出最新一代的納米壓痕儀 G200 包括高精度控制的壓頭和樣品同時加熱
2017-06-15 12:51:02 n為科學家和工程師提供眾多創新而有吸引力的動態材料測試方法
新聞要點：
· 快速加熱實現動態納米壓痕和蠕變測量
· 熱電偶加熱探壓頭可實現很好的熱平衡
· 可調激光源光斑大小將發熱面積控制到最小，從而減少熱漂移
2017 年 6 月 15 日，北京——是德科技（NYSE:KEYS）今日宣布推出高精度壓頭和樣品加熱器，讓其廣受歡迎的納米壓痕儀 G200 的實用性進一步增強。這一簡單易用的解決方案使用精確的大功率二極管激光源來加熱樣品和壓痕儀壓頭。
其優勢包括能在精確控制的溫度下測量納米力學性能，并能在高度動態的溫度條件下測試各種樣品。為了確保數據的可靠性，系統通過使用功能優化的材料和可調激光源光斑大小的功能，最大限度地減少與加熱有關的漂移。是德科技納米壓痕儀 G200 的用戶還可以選擇用各種氣體來清洗樣本，以避免樣本污染和氧化。
G200全新的壓頭和樣品加熱選件支持較寬的溫度范圍（RT 高達 500°C ），控溫精度達到 0.1°C。另一個優勢是系統的加熱和冷卻流程速度非常快。取決于溫度，加熱和冷卻速率可能超過 20 K/秒。這使得科學家和工程師能采用許多創新和有吸引力的方式進行動態材料測試。
是德科技的激光加熱壓痕儀探針是新系統解決方案的關鍵組件，可防止測量過程中基板溫度發生擾動。在測量導熱性差的材料以及機械性能受溫度影響大的材料時，這種穩定性至關重要。將壓頭和樣品保持在同一溫度，還可以讓 G200 用戶以極高的精度執行高溫連續剛度測量。
納米壓痕儀 G200 系統的基板支架經過優化，可提供非常高的機械和溫度穩定度。為了確保 G200 的操作簡單方便，樣本下方的透明板包括一個內置熱電偶。當需要絕對最高精度時（如涉及厚聚合物樣品的納米壓痕應用），用戶可以將熱電偶安裝到樣本表面。雙回路 PID 控制器的 NanoSuite 接口提供完整的 NanoSuite 軟件集成。
關鍵詞：
