德州儀器新型MCU可實(shí)現(xiàn)邊緣AI和先進(jìn)的實(shí)時(shí)控制,提高系統(tǒng)效率、安全性和可持續(xù)性
2024-11-28 10:53:58 EETOP新聞亮點(diǎn):
· 全新 TMS320F28P55x 系列 C2000? MCU 集成了邊緣人工智能 (AI) 硬件加速器,可實(shí)現(xiàn)更智能的實(shí)時(shí)控制,故障檢測(cè)準(zhǔn)確率高達(dá) 99%。
· 全新 F29H85x 系列中的新型 64 位 C29 內(nèi)核的實(shí)時(shí)控制性能比現(xiàn)有各代產(chǎn)品提高了一倍多,其完整性等級(jí)可達(dá)到汽車安全完整性等級(jí) ASIL-D 和 SIL-3。
中國深圳(2024 年11 月 26 日)– 德州儀器 (TI)(納斯達(dá)克代碼:TXN)近日推出了兩個(gè)全新系列的實(shí)時(shí)微控制器,這些產(chǎn)品的技術(shù)進(jìn)步可幫助工程師在汽車和工業(yè)應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)更智能、更安全的處理。德州儀器的 TMS320F28P55x 系列 C2000? MCU 是業(yè)內(nèi)率先推出的具有集成神經(jīng)處理單元 (NPU) 的實(shí)時(shí)微控制器產(chǎn)品系列,可實(shí)現(xiàn)高精度、低延遲的故障檢測(cè)。F29H85x 系列基于德州儀器的新型 64 位 C29 數(shù)字信號(hào)處理器內(nèi)核構(gòu)建,提供具有集成功能安全和信息安全功能的先進(jìn)架構(gòu)。德州儀器已于日前攜這兩款器件亮相2024德國慕尼黑國際電子元器件展。
如需了解更多信息,請(qǐng)參閱 ti.com/TMS320F28P550SJ、ti.com/TMS320F28P559SJ-Q1、ti.com/F29H850TU 和 ti.com/F29H859TU-Q1。
“在探索設(shè)計(jì)創(chuàng)新的過程中,針對(duì)汽車與工業(yè)應(yīng)用的搭配尚存優(yōu)化空間。為此,工程師們正致力于開發(fā)出能效更高、決策更快的創(chuàng)新應(yīng)用,這推動(dòng)了對(duì)可擴(kuò)展性更高的處理能力、更大的內(nèi)存以及片上功能安全和信息安全機(jī)制的需求,”德州儀器全球高級(jí)副總裁、嵌入式處理產(chǎn)品負(fù)責(zé)人 Amichai Ron 表示,“幾十年來,我們的 C2000 MCU 一直在幫助制造商測(cè)量和高效處理實(shí)際數(shù)據(jù)。現(xiàn)在,我們?cè)?C2000 產(chǎn)品系列中引入了增強(qiáng)型實(shí)時(shí)性能和邊緣 AI,這將賦能工程師解決更復(fù)雜的問題,實(shí)現(xiàn)更高水平的系統(tǒng)效率、安全性和可持續(xù)性。”
通過支持邊緣 AI 的 MCU 實(shí)現(xiàn)更智能、更高效的系統(tǒng)
當(dāng)今,工程師們面臨的挑戰(zhàn)是設(shè)計(jì)出能夠?qū)崟r(shí)做出準(zhǔn)確、智能決策的系統(tǒng),以便執(zhí)行太陽能和儲(chǔ)能系統(tǒng)中的電弧故障檢測(cè),以及用于預(yù)測(cè)性維護(hù)的電機(jī)軸承故障檢測(cè)等功能。作為業(yè)界率先推出的具有集成神經(jīng)處理單元的實(shí)時(shí) MCU,德州儀器的新型 C2000 TMS320F28P55x 系列可通過保障實(shí)時(shí)處理的一致性能來應(yīng)對(duì)上述挑戰(zhàn)。
TMS320F28P55x 系列MCU 使用集成神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)處理單元 (NPU) 運(yùn)行卷積神經(jīng)網(wǎng)絡(luò) (CNN) 模型,能夠減輕主CPU的負(fù)擔(dān),因此其延遲時(shí)間比軟件實(shí)現(xiàn)低 5 到 10 倍,因而可實(shí)現(xiàn)更快、更準(zhǔn)確的決策。此外,在集成 NPU 上運(yùn)行的模型可通過訓(xùn)練學(xué)習(xí)和適應(yīng)不同的環(huán)境,幫助系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高于 99% 的故障檢測(cè)準(zhǔn)確率,從而在邊緣做出更明智的決策。德州儀器完整的 AI 工具鏈包括針對(duì)特定應(yīng)用進(jìn)行優(yōu)化和測(cè)試的模型,可幫助不同經(jīng)驗(yàn)水平的工程師輕松完成 AI 模型開發(fā)過程。
德州儀器中國區(qū)技術(shù)支持總監(jiān)師英表示:“憑借我們?cè)谏窠?jīng)處理單元領(lǐng)域的深厚積累與領(lǐng)先優(yōu)勢(shì),我們將為工程師們?cè)谠O(shè)計(jì)能夠?qū)崟r(shí)做出準(zhǔn)確、智能決策的系統(tǒng)過程中所面臨的挑戰(zhàn)提供強(qiáng)有力的支持。”
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