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恩智浦半導體NV：利用TrEOS保護器件攻克新的USB ESD挑戰(zhàn)

2015-10-16 18:29:15 未知

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至關重要的是電子系統(tǒng)的設計者，以保護每一個產(chǎn)品抗ESD的破壞力。系統(tǒng)，組件和接口都處于危險之中，尤其是在芯片幾何尺寸的不斷縮小和數(shù)據(jù)傳輸速度變得更快。創(chuàng)新的產(chǎn)品往往會帶來他們新的要求和新的挑戰(zhàn)，需要新的解決方案。其中一個例子是最新的USB接口標準，它帶來了更快的數(shù)據(jù)速率和新的USB C型連接器。

新的保護水平

對于USB 3.1的ESD保護的一個新的水平，主要是因為其非常高的10 Gbps的數(shù)據(jù)速率必要。表1提供了最近的USB標準和它們的最大數(shù)據(jù)傳輸速率的摘要。在兩倍的USB 3.0的，快速的數(shù)據(jù)速率使得它更難以保持信號完整性。例如，ESD保護二極管的小固有電容成為潛在的信號干擾的一個因素。另外，快速系統(tǒng)的較小的結構趨向于對ESD更敏感，要求更加可靠的ESD溶液。

隨著我們新的Treo智能手機保護器件系列，我們已經(jīng)取得了較高水平的ESD保護，非常適用于USB 3.1接口。它提供低電容，高系統(tǒng)級魯棒性和低鉗位電壓的行業(yè)基準組合。

滿足信號完整性要求

Treo智能手機設備的電容量在0.3 pF的范圍單向的設備，而雙向器件提供的電容下降到僅0.1 pF的。低電容本身不足以實現(xiàn)與良好的信號完整性的系統(tǒng)。信號線應盡可能短，對稱越好，存根避免。mcuDQoNCg==" style="padding: 0px; margin: 0px auto; font-family: Arial, 宋體; font-size: 14px; line-height: 26px;">恩智浦提供包的概念，它支持RF型路由。

這篇文章提供了什么，你可以在我們的新技術白皮書“ESD為USB 3.1和C型保護”找到剛才的味道：它給你一個深入的分析，綜合考慮改變這種流行的接口如何與挑戰(zhàn)對保護USB 3.1產(chǎn)品ESD沖擊。它涵蓋的主題包括如何讀眼圖和傳輸線脈沖（TLP）的測量，系統(tǒng)級的保護，等等。它還包括一個看看一些新的解決方案 - 包括Treo智能手機保護器件系列。您也可以下載白皮書，我們的ESD技術的網(wǎng)站。