泛華恒興推出最新電子元器件老化測(cè)試系統(tǒng)
2011-07-28 22:26:42 本站原創(chuàng)作為專業(yè)的電子元器件老化測(cè)試系統(tǒng),其可在室溫至180度的任意溫度點(diǎn)下,對(duì)電子元器件進(jìn)行功能、電氣指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試,溫度測(cè)量精度可達(dá)0.1℃。該測(cè)試系統(tǒng)由老化板、老化插座、負(fù)載板及泛華恒興自主研發(fā)的信號(hào)路由矩陣組成,模塊化設(shè)計(jì)保證了系統(tǒng)具有強(qiáng)大的擴(kuò)展性。系統(tǒng)采用大腔體設(shè)計(jì),可接受最多16塊不同的老化板同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。老化板適配夾具耐溫可達(dá)270℃,接口可基于元器件任意定制。同時(shí),該系統(tǒng)還可以任意設(shè)置老化溫度點(diǎn)、老化時(shí)間與循環(huán)測(cè)試時(shí)間間隔,以滿足不同的測(cè)試需求。
EETOP 官方微信
創(chuàng)芯大講堂 在線教育
半導(dǎo)體創(chuàng)芯網(wǎng) 快訊
相關(guān)文章