業(yè)界獲獎(jiǎng)產(chǎn)品Cadence Encounter Test擴(kuò)展數(shù)據(jù)壓縮以及成品率診斷特性以應(yīng)對(duì)制造成本上漲和成品率下滑難題【美國(guó)加州圣荷塞,2006年7月20日】
基于ARM處理器的“錦囊”充分利用Cadence Plan-to-Closure的方法學(xué)和經(jīng)過ARM 技術(shù)認(rèn)證的AMBA驗(yàn)證IP【2006年7月3日法國(guó)尼斯,CDN Live! EME
采用Incisive Formal Verifier進(jìn)行形式分析, Oki提升了設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)生產(chǎn)力和產(chǎn)品整體品質(zhì)【2006年7月10日加州圣何塞市】Cadence設(shè)計(jì)系統(tǒng)公司(
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