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資訊列表

• e絡(luò)盟攜手羅姆推出創(chuàng)新的六傳感器平臺評估套件

  e絡(luò)盟日前宣布推出羅姆多感應(yīng)評估套件傳感器擴(kuò)展平臺，可以在項目開發(fā)中實現(xiàn)感應(yīng)器的即時更換。借助這款全新平臺，客戶能夠測試并交換使用來自

  測試測量

  2015-07-04
• 集成質(zhì)量保證的可編程順序控制

  2015年8月26日-28日AHTE將于上海舉行。Kistler將展出maXYmos系列的最新產(chǎn)品，用于生產(chǎn)過程可視化和評估。Kistler展位(E4-D11展位)將展 出用于

  測試測量

  2015-06-30
• 泰克為HDMI接收機(jī)測試新增高級分析和檢定支持

  全球領(lǐng)先的示波器制造商—泰克公司日前宣布，通過為HDMI 2.0接收機(jī)測試增加高級分析和檢定支持，它已經(jīng)擴(kuò)展了HDMI測試解決方案產(chǎn)品組合。最新

  測試測量

  2015-06-30
• 愛德萬測試發(fā)布首個光收發(fā)器整體測試解決方案

  全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試近日發(fā)布了首個為光收發(fā)芯片測試研發(fā)的解決方案——新型28G OPM（光纖端口測試模塊）。光收發(fā)芯片

  測試測量

  2015-06-29
• 愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833

  全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試發(fā)表全新存儲器測試系統(tǒng)T5833，新系統(tǒng)同時支持DRAM與NAND閃存器件的晶圓測試及后道封裝測試，可滿足

  測試測量

  2015-06-29
• Vishay推出可在惡劣環(huán)境下穩(wěn)定工作的新款鉑金SMD扁平

  Vishay Intertechnology, Inc.（NYSE 股市代號：VSH）宣布，發(fā)布新的通過AEC-Q200認(rèn)證的PTS系列鉑金SMD扁平片式溫度傳感器---PTS AT。Vish

  測試測量

  2015-06-28
• Microchip推出全球首個支持可配置模擬輸出和二線制數(shù)

  　全球領(lǐng)先的整合單片機(jī)、混合信號、模擬器件和閃存專利解決方案的供應(yīng)商——Microchip Technology Inc.(美國微芯科技公司)在美國國際傳感器

  測試測量

  2015-06-26
• Vishay的微型塑料外殼幫助反射式物體檢測和接近傳感器

  Vishay推出一款用于反射式物體和接近傳感器的快速成型設(shè)計的微型塑料外殼，擴(kuò)大其光電子產(chǎn)品組合。該外殼經(jīng)過特殊設(shè)計，可在3mm (T1)紅外發(fā)射

  測試測量

  2015-06-24
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