安捷倫發布最新版本的集成電路表征和分析程序
2011-06-23 19:56:18 本站原創先進的 CMOS 器件建模需要執行大量測量,以分析制程趨勢,確定提取典型和邊際器件模型所需的數據。管理和分析數據,以確保為復雜的模塊提取和驗證做出正確的選擇,是一項很大的挑戰。這通常需要建模團隊使用多種軟件工具來轉換將數據格式,但這樣既不精確又缺乏效率。IC-CAP WaferPro 幫助用戶以最有效的方式收集和管理大量數據。現在,IC-CAP CMOS 建模套件首次能夠與 WaferPro 完美結合。
通過 IC-CAP 2011.04,用戶能夠在 Agilent CMOS 套件環境中定義器件和測量測試,自動生成可在各種測試設備上執行的 WaferPro 測試方案。通過 WaferPro 表征各種幾何形狀的器件后,CMOS 提取模塊將自動讀取測量數據用于模型提取。由于不需要在測量和建模應用之間進行數據傳輸或格式轉化,這極大地提高了流程效率。
Agilent EEsof EDA 事業部產品經理 Roberto Tinti 表示:“從 2010 版本開始,IC-CAP WaferPro 憑借其性能、靈敏度、對測試儀器和系統的廣泛支持,以及最大程度地幫助使用實驗室設備等優勢,已經日益成為客戶的理想選擇。我們非常高興地將 WaferPro 的強大功能提供給所有 Agilent CMOS 提取套件用戶。這樣,我們可以幫助他們更有效地安排從測量到提取從整個流程。”
除了 WaferPro 和 CMOS 套件組合,IC-CAP 2011.04 還增加了對 Windows 7 的支持,并且改進了仿真、測量和編程環境中的幾個平臺。增強功能包括使用 Verilog-A 和 Agilent ADS 仿真器(在IC-CAP 分析模塊中免費使用,無需額外的許可證)進行仿真,并支持 spice 網表中的 PARAM語法格式。此外,WaferPro 現在支持 Tokyo Electron P8/P12 全自動探針臺,同時 Agilent B1505A 直流功率分析儀驅動程序支持在多個偏置單元上進行脈沖偏置。