5Ge5o23" style="text-decoration: underline; color: blue;">惠瑞捷
半導體科技有限公司針對
晶圓測試和時下對成本最為敏感的
集成電路和
微控制器的成品
測試推出了一款新型
測試系統V101。V101滿足了這些
芯片的超低成本要求,以及緩解了日益增長的上市時間壓力。
V101
測試系統將于2009年7月14日-16日在美國加利福尼亞州舊金山市莫斯克尼會議中心舉行的SEMICON WEST展覽會上展出,惠瑞捷展臺號為921。
惠瑞捷副總裁暨ASTS事業部總經理魏津博士表示:“V101首次讓惠瑞捷成熟的
測試技術專業知識惠及這一細分市場。這一成本敏感型市場要求
測試方案以最低的
測試成本提供最大的整體價值。有鑒于此,我們設計了一種自行安裝、自行診斷和自行維護的系統。”
V101
測試系統擁有多達1024個輸入/輸出通道,數字時鐘頻率高達100 MHz,其性能保證可以經濟高效地
測試目前對成本最為敏感的集成電路和微控制器,尤其是廣泛應用于低端移動通信和消費類產品。
V101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構,可直接在
測試板上布置數字直流資源,從而簡化了
測試儀硬件和配置。該架構支持高效率的多站點
測試,數據吞吐量高,同時可降低
測試成本,而標準化組件使得V101易于安裝和維護。
魏津補充說:“V101是一個簡單、經濟、易用的系統,可為客戶提供前所未有的價值。因此,尚未使用過惠瑞捷解決方案的客戶也開始對我們的產品感興趣,其中有需要
測試多種
芯片的客戶,還有專注于成本敏感型MCU市場的
測試廠和制造商。”
Tester-on-Board架構
V101架構是直接在
測試板上布置數字直流資源,實現了高性能與低成本的完美結合。這種架構還支持客戶根據自己的需求變化,輕松地擴大或降低V101的容量。
優化低成本微控制器測試
V101可經濟高效地
測試4/8/16位MCU和其他低管腳數低端IC
芯片。該數字儀器卡擁有8個DPS(設備
電源),數字時鐘頻率高達100
MHz,深度的矢量內存(60M)和捕捉內存(8
M)滿足了
芯片生命周期短以及改版快的要求,低噪音水平提高了精確度和產出。板載多功能直流
測量單元避免了對單獨模擬卡的需求,支持嵌入式A/D轉換器的
測試,從而降低了成本。
優化晶圓測試
V101是唯一為晶圓進行優化且支持直接探測的
測試系統。利用該系統進行晶圓
測試不需要單獨的pogo tower或昂貴的附加接口,極大地降低了成本。V101增強了晶圓
測試的信號保真度并簡化了產品配置。
易于使用的軟件
V101的操作系統軟件使用了惠瑞捷成熟一流的StylusTM ,易學易用。Stylus支持直接EDA連接,縮短了程序開發時間。基于STIL的
測試編程簡化了其他基于STIL的
測試程序轉換,其與深度矢量和捕捉內存融合后可極大地縮短程序開發時間。
廣泛的應用
V101可廣泛地用于經濟高效地
測試各種最低成本的集成電路器件。
• 4/8/16位MCU
• 顯示驅動控制器
• 外圍接口
• 通用ASIC
• 嵌入式內存
• 嵌入式模擬至數字轉換器
如欲了解與V101有關的更多信息,敬請訪問:
www.verigy.com/go/v101 。
關于惠瑞捷半導體科技有限公司
惠瑞捷
半導體科技有限公司作為業內的領導廠商,致力于為全球知名企業提供用于設計驗證、檢定以及大批量生產
測試所需的先進
半導體測試系統和解決方案。惠瑞
捷提供的可擴展平臺可以為各種系統級
芯片(SoC)、閃存和DRAM(包括高速存儲在內的)存儲系統以及多
芯片封裝(MCP)提供各種
測試解決方案。惠瑞
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