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資訊列表

• Touchdown Technologies推出用于高級DRAM測試的全晶圓探針

  　　半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy)旗下全資子公司 Touchdown Technologies 推出了其 1Td300 全晶圓探卡，這是該公司首款用于高級 DRAM

  測試測量

  2010-07-26
• M3G測試方案為高級內存提供低廉的測試成本

  　　惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存儲器測試解決方案，進一步拓展了面向 DDR3 世代主流存儲器 IC 和更高級存儲器件測試能力

  測試測量

  2010-07-26
• 綜合信號發生器 HMC-T2240

  Hittite 公司日前發布了最新的儀器產品HMC-T2240，這是一款支持10MHz~40GHz的綜合信號發生器，在同尺寸及成本的信號發生器中，其輸出功率最高

  測試測量

  2010-07-21
• 日置阻抗分析儀IM3570

  阻抗分析儀IM3570是實現了測量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析儀。根據客戶的用途，可以與原來本公司的LCR產品一樣選擇將測

  測試測量

  2010-07-21
• 
  CS1500/1600：數字功率因數校正控制器

  Cirrus Logic公司宣布為不斷增長的能源相關市場開發了一個全新的產品線，推出行業首批數字功率因數校正（PFC）控制器，無論在性能還是價格上

  測試測量

  2010-07-19
• IDT推出智能電網市場的全新計量 IC 系列

  致力于豐富數字媒體體驗、提供領先的混合信號半導體解決方案供應商 IDT公司（Integrated Device Technology, Inc.; NASDAQ: IDTI）宣布

  測試測量

  2010-07-19
• 力科公司發布極高性價比的便攜式USB3.0協議分析儀

  　　USB測試解決方案的全球領導者力科公司(LeCroy)日前發布一款全新的USB3.0 協議分析儀，該產品被設計成能顯著降低測試SuperSpeed USB設備

  測試測量

  2010-07-19
• 帶寬高達22GHz新型可調間距差分探頭前端

  　　力科公司的WaveLink 探頭系統以前配備的是最高達25GHz的焊接式連接前端。現在這個產品已經被擴展到包括22GHz的可調間距前端附件。　　力

  測試測量

  2010-07-14
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