日置阻抗分析儀IM3570
2010-07-21 17:16:55 本站原創(chuàng)
定位
IM3570是類似本公司以往產(chǎn)品LCR測試儀3532-50，并較其功能更為強大的產(chǎn)品。特別加強了頻率的掃描測量、高速測量、低ESR測量、DCR的連續(xù)測量和測量穩(wěn)定性，是HIOKI首款能在掃頻測量時顯示圖表的產(chǎn)品。此外，這款產(chǎn)品的測試速度、操作性、價格都非常符合現(xiàn)今市場需求，極具行業(yè)競爭性。
特點
關(guān)于測量精度，特別是低阻抗的操作反復(fù)精度比起以往產(chǎn)品都提高了一位，所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。
另外，測量時間最快為0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF時），所以能夠高速測量共振頻率、發(fā)聲零件、振動傳感器等，適合用于生產(chǎn)壓電元件的生產(chǎn)線。
最大的優(yōu)點是，與以往產(chǎn)品相比可高速的切換測量條件后進行測量。因此，以往的裝備多臺測試儀的系統(tǒng)現(xiàn)在用一臺IM3570就能搞定。比如，測量線圈，DCR測量（電阻計）和1MHz的L-Q值測量（LCR）都可以用IM3570測量。
主要應(yīng)用
壓電元件（發(fā)聲零件、濾波器）、高分子電容的生產(chǎn)線上的檢查中，另外頻率掃描測量也可用于電池材料評估等多種用途中。
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