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一臺儀器就可以實現不同測量條件的高速檢測要求

即將發售的阻抗分析儀IM3570是測量頻率4Hz~5MHz，測試電平5mV~5V 的LCR電橋與阻抗分析儀合二為一的儀器。因為對應不同測量條件都能高速連續測量，所以在需要使用眾多儀器檢查的生產線上，僅IM3570一臺便可實現。

壓 電元件的共振特性的測量
通過頻率掃頻測量共振頻率和當時的阻抗值，利用比較功能判別是否合格。另外，通過連續測量的功能，1KHz的 C值測量（LCR電橋）和頻率掃頻測量都能在這一臺儀器上實現。

功能高分子電容等的C-D值和低ESR測量
能夠連續測量功能性高分 子電容的C-D值以及低ESR（100kHz）
與之前的產品（3522-50,3532-50）相比，低阻抗測量時的絕對精度和反復精度都提升了 1位。

電感（線圈、變壓器）的DCR和L-Q測量
連續測量L-Q（1kHz，CC1mA）和DCR，能在同一畫面上顯示數值。
通 過掃頻測量，能夠用圖表來顯示頻率特性和電平特性。

阻抗分析儀IM3570的介紹

推薦用于生產線中的特點和功能
 按 照不同測量條件進行連續測量
根據測量對象，1臺儀器可連續測量必須的多種測量條件。例如：可進行DCR（直流電阻）和L-Q的連續測量、以及C- D（120Hz）和ESR（100kHz）的連續測量。
 通過高速測量加快檢查速度
縮短測量時間、實現最快2ms（1kHz）、 1ms（100kHz）。和日置以往產品（代表值5ms）相比，大幅提高了速度，從而有利于增加檢查數量。
 和以往產品相比，反復精度提高了1 位
和以往產品相比，將低阻抗測量時、高頻測量時的反復精度提高了1位。在提高了測量值的可信度的同時，可縮小設置生產線的判斷標準的幅度。
 具 備接觸檢查功能
利用4端子測量（僅低阻抗高精度模式時）、2端子測量的接觸檢查功能，可防止測量電極為接觸被測物的情況下測量。
 測量 線可延長至4m
利用4端子的結構減小測量線的影響，以測量線長0/1/2/4m來保證精度。便于自動機的接線。
 可在內部發生DC偏壓
僅 主機可外加并測量最大2.5V的DC偏壓。可安心測量鉭電容等有極性的電容。
 DC~5MHz可使用的4端子探頭
4端子探頭 L2000（選件）采用有利于特性阻抗50Ω和提高測量精度的4端子構造，是最適合于IM3570的探頭。