12 GHz 差分晶圓探測解決方案
2010-02-23 13:46:57 本站原創安捷倫科技公司宣布推出 12 GHz 差分晶圓探測解決方案。該細線探針是一個高保真度、寬帶寬解決方案，允許研發和測試工程師使用示波器對高速有源集成電路進行調試和測試。
N2884A InfiniiMax 差分細線探針使用了安捷倫的低成本 ZIF 探頭技術，能夠在整個 12 GHz 帶寬范圍內提供平坦的頻率響應。該探針能夠消除由于帶內諧振而帶來的探頭的失真和負載影響。N2884A 測量被測件上與相鄰本地接地（或其他節點）之間電壓的關系，其他解決方案則測量與某些遠離探測點的接地之間電壓的關系。N2884A 采用的技術可以在測量中更好地抑制共模噪聲并提供出色的信號完整性，從而使工程師在調試高速器件設計時可以排除干擾，更好地完成探測工作。
N2884A 包含一個探測臂和一組 5 個探針，且該探測臂兼容 Wentworth Laboratories 的微定位儀。
