惠瑞捷 V93000 獲ISE Labs硅谷及德州奧斯汀廠采用
2012-03-29 22:16:55 本站原創雙方長遠結盟關系的最新計畫即為ISE Labs 奧斯汀廠將開始采用惠瑞捷的Pin Scale 技術開發先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性IC 如智慧媒體芯片內建系統(SOC) 設備，應用于下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝L 級測試頭的V93000 Pin Scale 測試機臺，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及800 數位量測模組下，具備超過900 個數位信號腳位供測試。
此外，硅谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠，亦引進了兩臺配備Pin Scale 1600數位量測模組的V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產的IC。其中一套系統使用Pin Scale 1600 以及9G 數位量測模組，有超過1, 000 個腳位的C 級測試頭；另一個系統則配備惠瑞捷最小的A 級測試頭，配有512 個數位量測腳位以及MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級，提供增加數位量測腳數，或新增測量資源，如惠瑞捷的Port Scale 射頻解決方案。 ISE Labs 所采用的惠瑞捷Smart Scale 技術，是硅谷測試服務供應商中的首創之舉。
ISE Labs工程與測試服務副總裁Rabbi-ul Islam 表示：「我們對于與惠瑞捷的長期合作關系，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經認證的Pin Scale 技術。
惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁Sanjeev Mohan 強調：「能獲得ISE Labs 青睞，將新一代Smart Scale 系統運用于技術開發以及商業測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業界領先的水準。
惠瑞捷的可擴展Smart Scale 測試系統以及數位信號量測模組，展現最具經濟效益的先進半導體設計測試，包括28nm 技術節點及以下的3D 堆疊與IC設計。
Pin Scale 1600 數位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。 Per-pin功能包括獨立時脈網域、高精準度的直流電與業界領先的數位效能，都可以透過Pin Scale 1600 進行強化。
惠瑞捷的Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒8Gb，符合成本的高速測試制具。高度多樣化的Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。
