柔性可穿戴電子設(shè)備主要由柔性壓阻傳感器材料、柔性傳感器框架、電極連接、信號(hào)采集和處理電路組成。
氮化鎵功率器件因其高速開關(guān)能力、高功率密度和成本效益而成為市場(chǎng)的熱門選擇。然而，由于工作電壓和長(zhǎng)期可靠性的制約，這些器件的潛力并未得到充分發(fā)揮，主要在消費(fèi)電子領(lǐng)域內(nèi)競(jìng)爭(zhēng)價(jià)
準(zhǔn)確測(cè)試提高高熵能源的開發(fā)轉(zhuǎn)化與利用基于納米發(fā)電機(jī)的高熵能源可以很好實(shí)現(xiàn)能源的供給。未來，在能源互聯(lián)網(wǎng)、智能電網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)、互聯(lián)網(wǎng)、
PSIJ，那是一場(chǎng)無聲的風(fēng)暴在高速信號(hào)傳輸?shù)氖澜缋铮恳粋€(gè)細(xì)微的“波動(dòng)”都可能引發(fā)巨大的影響。而如今，一個(gè)隱匿的“殺手”正悄然威脅著高
產(chǎn)品測(cè)試一直都是開發(fā)過程中確保產(chǎn)品在功能和性能方面符合市場(chǎng)預(yù)期的關(guān)鍵一環(huán)。然而，傳統(tǒng)的產(chǎn)品測(cè)試流程需要投入大量的時(shí)間和資源。另一方
隨著MOSFET柵極長(zhǎng)度的減小，熱載流子誘發(fā)的退化已成為重要的可靠性問題之一。在熱載流子效應(yīng)中，載流子被通道電場(chǎng)加速并被困在氧化物中。這
PCI-SIG 6 0規(guī)范引入了PAM4信號(hào)，旨在在保持NRZ信號(hào)向后兼容的同時(shí)實(shí)現(xiàn)64GT s。多級(jí)（PAM4）方法為采用者和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)帶來了新的信號(hào)完整性挑戰(zhàn)。Tektronix的PCI Express 6 0軟件通過自動(dòng)化測(cè)試來減少這
由于發(fā)光二極管 (LED) 具備能效高、壽命長(zhǎng)、用途廣等優(yōu)勢(shì)，因此在各種應(yīng)用中廣受歡迎，正如圖1所示，可應(yīng)用在家庭、辦公室、汽車和電子顯
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