安捷倫屢獲殊榮的超快速 Express Test 現(xiàn)可兼容全部 G200 臺(tái)子和 DCM II、XP 壓頭
2013-12-10 21:55:23 本站原創(chuàng)安捷倫科技公司日前宣布其快速壓痕測試 Express Test 選件榮獲全球百大科技研發(fā)獎(jiǎng)，現(xiàn)可兼容全部 Nano Indenter G200 臺(tái)子、DCM II 和 XP 壓頭。創(chuàng)新 Express Test 技術(shù)可實(shí)現(xiàn)全球最快速的納米壓痕，以進(jìn)行力學(xué)性能成像。
Express Test 能夠獨(dú)一無二地與安捷倫暢銷的 Nano Indenter G200 配合使用，提供適合多種材料的高精度數(shù)據(jù)。Express Test 所提供的方法非常適合金屬、玻璃、陶瓷、結(jié)構(gòu)型高分子、薄膜和低介電材料等多種儀表壓痕應(yīng)用。Express Test 可在 100 秒內(nèi)在 100 個(gè)不同的表面位置執(zhí)行多達(dá) 100 次的納米壓痕測量。
對(duì)于科學(xué)和工業(yè)部門的工程師來說，Agilent Express Test 可提供前所未有的速度、卓越的通用性和即點(diǎn)即拍的簡便性。Express Test 使 Nano Indenter G200 能夠在載荷控制或位移控制模式下工作。測試過程很簡單：即點(diǎn)即拍。
使用 Express Test，用戶可以在幾分鐘內(nèi)完成壓頭的面積函數(shù)校準(zhǔn)，使用穩(wěn)健統(tǒng)計(jì)快速測試楊氏模量和硬度，以及定量的力學(xué)性能成像。安捷倫性能領(lǐng)先的 NanoSuite 軟件允許用戶自動(dòng)生成直方圖和 3D 力學(xué)性能圖形。圖形和支持?jǐn)?shù)據(jù)可輕松導(dǎo)出到 Microsoft Excel 表格。
關(guān)于 Agilent Nano Indenter G200
Agilent Nano Indenter G200 采用電磁驅(qū)動(dòng)器獲得極佳的力和位移動(dòng)態(tài)范圍。安捷倫創(chuàng)新的 Express Test 選件使得 G200 成為用于納米力學(xué)測試的最精確、最靈活、最容易使用的儀器。G200 設(shè)計(jì)擁有諸多優(yōu)點(diǎn)，包括支持訪問整個(gè)樣品盤、具備極高的樣品定位精度、支持輕松查看樣品位置和樣品工作區(qū)域、支持輕松調(diào)整樣品高度，這些優(yōu)點(diǎn)將會(huì)加速整個(gè)測試過程。
安捷倫科技提供的納米力學(xué)系統(tǒng)
安捷倫為科研、工業(yè)和教育行業(yè)提供高精度、模塊化的納米測量解決方案。經(jīng)驗(yàn)豐富的應(yīng)用科學(xué)家和技術(shù)服務(wù)人員為其提供全球支持。安捷倫的尖端研發(fā)實(shí)驗(yàn)室能夠確保及時(shí)推出和優(yōu)化創(chuàng)新和易于使用的納米力學(xué)系統(tǒng)技術(shù)。
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