欢乐颂第二季,性爱有声小说在线收听,有声读物

Mentor Graphics最新TessentScanPro產品在測試數據量壓縮方面實現巨大飛躍

2015-10-13 21:36:40 未知

點擊關注->創芯網公眾號，后臺告知EETOP論壇用戶名，獎勵200信元

Mentor Graphics公司（納斯達克代碼：MENT）今天宣布推出新款Tessent^®ScanPro產品，該產品采用的技術可以顯著提升使用TessentTestKompress^® ATPG 壓縮解決方案實現的測試模式容量的節省。由于測試模式的容量很大程度上決定了測試集成電路 (IC) 的成本和時間，因此 Tessent ScanPro 產品可幫助芯片制造商以更快、更具成本效益的方式交付他們的產品。

Tessent ScanPro 產品的關鍵技術——嵌入式確定性測試 (EDT) 測試點，應用局部電路修改，可以減少測試模式生成過程中出現的分配沖突。由此，可以提升模式生成效率，進而顯著減少模式數量。EDT 測試點可有效地減少針對所有類型故障模型生成的模式，包括來自 Mentor^®的高級單元感知故障模型。

“隨著我們的設計尺寸不斷增加，測試時間的問題變得越來越嚴重”，Marvel NCD 的 DFT 經理 Erez Menahem 說。“使用 Mentor 的 EDT 測試點技術，我們可以顯著減少測試模型數量，在諸多測試案例中通常可減少到1/3 ～ 1/4，而不會對質量產生任何影響。”

Tessent ScanPro 產品可在不影響設計性能或計劃的前提下，為插入 EDT 測試點提供自動化操作。分析和插入步驟可輕松融入到任何 DFT 流程中。測試點位置經過精心挑選，不會影響時序收斂。同時，一些布局約束也可以由用戶來控制。

“隨著設計尺寸不斷增加，質量要求變得更加嚴格，我們的客戶也一直在努力降低測試成本”，Mentor Graphics產品營銷總監 Steve Pateras 說。“Tessent ScanPro 的新型 EDT 測試點技術為測試壓縮實現了巨大的飛躍。通過將 EDT 測試點技術與 Tessent TestKompress 解決方案相結合，可使總體測試數據量壓縮級別介于 200 倍至 400 倍的范圍；對某些設計而言，壓縮級別甚至更高。”

Tessent ScanPro 產品也提供一整套高級掃描 DFT 功能。它可通過生成和添加最有效的掃描架構，將門級網表轉化成完備掃描測試和模型壓縮的設計。并且，還可分析設計可能存在的測試限制、執行測試相關的設計規則檢查 (DRC)，并進行必要的自動糾錯。此外，Tessent ScanPro 產品還支持為基于內核的層次化 DFT 方法插入專用和共享的包裝單元。
可用性

Tessent ScanPro產品現已發售。