微捷碼推出代工廠分析框架Excalibur-Litho
2011-04-06 18:40:52 本站原創(chuàng)“ Excalibur-Litho以經(jīng)過驗(yàn)證的代工廠分析框架為基礎(chǔ),提供了對(duì)基于光刻的在線缺陷的全面檢查,”微捷碼Fab分析業(yè)務(wù)部總經(jīng)理兼副總裁 Ankush Oberai表示。“通過利用一款經(jīng)驗(yàn)證且已接入設(shè)計(jì)和代工廠數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)設(shè)施,Excalibur-Litho可將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化知識(shí),加速了基于光刻的流程的 改善速度。”
應(yīng)用材料公司(Applied Materials Inc.)和微捷碼于2月XX日宣布攜手合作,將微捷碼基于CAD的導(dǎo)航和良率分析軟件(包括Excalibur-Litho)與應(yīng)用材料公司的先進(jìn)檢測(cè) 系統(tǒng)(見應(yīng)用材料公司的新聞報(bào)道:<插入U(xiǎn)RL>)集成在一起。這種設(shè)計(jì)與制造工具的獨(dú)特組合已為多家客戶的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)的開發(fā)和生產(chǎn)提供了 加速的光刻質(zhì)量檢驗(yàn)和改善的芯片良率。
Excalibur-Litho:從數(shù)據(jù)到知識(shí)
Excalibur-Litho會(huì)采集并組織制造流程的各種數(shù)據(jù),包括缺陷、度量、電力工具和制造執(zhí)行系統(tǒng)(MES)數(shù)據(jù)。晶圓信息會(huì)被堆棧在一起,輕松地交叉映射到任一個(gè)版圖、電路原理圖或網(wǎng)表設(shè)計(jì)表征上,使得分析更為容易。
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