安捷倫推出適用于電子測量的多功能臺式邊界掃描分析儀
2013-02-20 20:41:02 本站原創安捷倫科技公司日前宣布推出 Agilent x1149 邊界掃描分析儀。
邊界掃描已經成為工程師們在應對日益增加的測試接入挑戰時必不可少的技術。x1149 邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測試工具，能夠幫助用戶進行電路板設計和驗證，以及在生產過程中重復進行相同的 x1149 測試。
該分析儀提供了直觀的操作界面，您只需點擊一下鼠標便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關鍵特性包括：
· 覆蓋擴展技術和硅釘能力。
· 直接使用STAPL標準文件用于CPLD/FPGA的燒錄。
· 掃描路徑鏈接器(Scan Path Linker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。
· 完全兼容的器件支持 IEEE 1149.1 和 IEEE 1149.6 標準。
安捷倫測量系統事業部總經理 Boon Khim Tan 表示：“在 iNEMI 調查中，90% 的受訪者認為內置自測(BIST)功能是產品測試的關鍵;而 60%的電路板設計人員表示自己需要使用 BIST 對電路板的性能進行驗證。BIST 的接入方法主要是通過邊界掃描進行接入。”
“x1149 邊界掃描分析儀是安捷倫為滿足業界更多 BIST 需求而特別設計的。我們持續致力于為客戶提供最佳的投資回報，x1149 就是證明。它是一款多功能的儀器，可在從設計和驗證到批量生產的整個產品開發過程中使用。所有儀器均具有相同的測試可過渡移植性、可靠性和穩定性，這是安捷倫解決方案的標志性優勢。”
